掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工藝等領(lǐng)域的工具，它可以通過探測樣品表面激發(fā)出來的電子信號(hào)，對(duì)物質(zhì)微觀形貌進(jìn)行表征。在半導(dǎo)體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)分析等功能，適用于半導(dǎo)體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實(shí)現(xiàn)器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測和剖面分析，提高半導(dǎo)體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定性。同時(shí)我們也可以為客戶提供完整的解決方案，包括樣品制備、測試分析和數(shù)據(jù)分析等環(huán)節(jié)，為客戶提供更加服務(wù)和支持。

本期內(nèi)容，就讓我們一起來欣賞ZEM18鏡頭下的半導(dǎo)體世界

液晶顯示器LCD增亮膜檢測

電子元器件焊點(diǎn)檢測

晶圓雜質(zhì)檢測

半導(dǎo)體元器件檢測