掃描電鏡樣品的污染物如何去除？
在掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像過(guò)程中，樣品上的污染物會(huì)嚴(yán)重影響成像質(zhì)量和分析結(jié)果。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-05
在掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像過(guò)程中，樣品上的污染物會(huì)嚴(yán)重影響成像質(zhì)量和分析結(jié)果。
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在掃描電鏡（SEM）中，電磁透鏡的作用主要是用來(lái)聚焦和控制電子束，使其能夠精準(zhǔn)地掃描樣品表面，從而獲得高分辨率的圖像和精確的分析結(jié)果。
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在掃描電鏡（SEM）中，掃描模式 是決定如何對(duì)樣品表面進(jìn)行電子束掃描的設(shè)置。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-04
選擇掃描電鏡（SEM）的探測(cè)器對(duì)于獲得高質(zhì)量圖像至關(guān)重要。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-04
在掃描電鏡（SEM）中，邊緣效應(yīng)（Edge Effect）是指當(dāng)電子束掃描到樣品邊緣時(shí)，由于樣品厚度突然變化或電荷積累，導(dǎo)致邊緣區(qū)域產(chǎn)生過(guò)亮或過(guò)暗的現(xiàn)象，影響圖像質(zhì)量和定量分析的準(zhǔn)確性。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-03
判斷掃描電鏡（SEM）樣品的導(dǎo)電性是否足夠，對(duì)于獲得清晰、無(wú)偽影的圖像至關(guān)重要。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-03
掃描電鏡（SEM）圖像的后期處理和增強(qiáng)可以幫助提高圖像質(zhì)量，揭示更多細(xì)節(jié)，或者使圖像更加適合展示和分析。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-02-28
在掃描電鏡（SEM）中分析易揮發(fā)性樣品時(shí)，由于這些樣品容易在真空環(huán)境下蒸發(fā)或改變其物理狀態(tài)，因此需要特別的處理和預(yù)處理方法。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-02-28